| В книге описаны методы и технические средства контроля и измерений параметров полупроводниковых приборов и ИМС, а также различные виды их испытаний. Приведены основы статистической обработки результатов измерений и испытаний. Рассмотрены типовые измерительные схемы и компоновка высокопроизводительных автоматизированных измерительных систем |
yu.g._semenov_-_tehnologiya_poluprovodnikovyh_priborov_i_izdelij_mikroelektroniki._tom_10._kontrol_kachestva_-_1990.rar
Файл удален