Скачать книгу - Материаловедение в микроэлектронике

В учебном пособии рассмотрены основные физические явления, происходящие в диэлектриках при воздействии на них электрического поля: поляризация, электропроводность, диэлектрические потери и пробой изоляции. Дан анализ процессов в комбинированных диэлектриках. Рассказано о важнейших физических свойствах электроизоляционных материалов. Рассмотрены основные механизмы старения изоляции и их влияние на ее срок службы. Приведены экспериментальные данные по старению изоляции тяговых электродвигателей в зависимости от их пробега, сведения о профилактическом контроле, диагностике и испытаниях изоляции электротехнических установок. Описано применение диэлектриков в наиболее распространенных изоляционных конструкциях. Предлагается словарь иностранных технических терминов, встречающихся в пособии.

В данном учебном пособии рассмотрены вопросы, изучаемые в разделе "Бетоны и строительные растворы". Приведены материалы для проведения лабораторных работ и практических занятий. Предназначены для студентов 2, 3 курсов и магистрантов специальности 270100.

Данный конспект лекций предназначен для студентов высших и средних специальных учебных заведений. В него входят сведения о древесине и древесных материалах, описываются их основные свойства. Дается характеристика металлов и сплавов, рассматриваются способы их применения. Приводятся основные сведения о лакокрасочных, смазочных, облицовочных материалах, а также классификация клеев и области их назначения.

Учебное пособие по курсу «Текстильное материаловедение» предназначено для студентов, занимающихся художественным проектированием текстильных изделий. Оно содержит теоретическую информацию о свойствах волокон, нитей, различных текстильных переплетений, их влиянии на структуру и свойства тканей.

Первая в России книга по самым современным электронным электро– и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.